PCBA電路板組裝后的功能測(cè)試一般稱之為FVT(Function Verification Test，功能驗(yàn)證測(cè)試)或FCT(Function Test，功能測(cè)試），其目的是為了抓出組裝不良的板子，透過模擬電路板實(shí)裝成整機(jī)時(shí)的全功能測(cè)試，以期抓出在組裝成整機(jī)以前把所可能有瑕疵的電路組裝板抓出來，免得組裝成整機(jī)后才發(fā)現(xiàn)不良，還要全部拆掉重組造成工時(shí)浪費(fèi)以及材料的損失。

這種功能測(cè)試機(jī)臺(tái)的樣貌會(huì)隨著產(chǎn)品的大小、形狀而可能有所變化，另外功能測(cè)試的方式也可以視時(shí)間的急迫性、測(cè)試板的數(shù)量、與造價(jià)而有不同的選擇。就深圳宏力捷所知也較常用的功能測(cè)試方式大概可以分成下列幾種，其他可能還有些比較自動(dòng)化或深圳宏力捷用機(jī)柜的功能測(cè)試方式不在此篇介紹：

 

電路板整機(jī)實(shí)插功能測(cè)試：

通常一臺(tái)整機(jī)產(chǎn)品里面都由一片以上的電路板組合而成，所謂實(shí)插就是將組裝一臺(tái)整機(jī)所需要用到的所有電路板、零件…等都實(shí)際組裝起來，但不需要裝進(jìn)機(jī)殼里，因?yàn)橐?a href="http://m.dishome.cn" target="_blank">測(cè)試電路板的功能，所以必需要讓電路板方便拆裝。至于實(shí)插到什么程度就要視測(cè)試到哪些功能而定了，理想的狀況當(dāng)然是要可以測(cè)試全部的功能，如果不行的話，也要可以測(cè)試大部分的功能，重點(diǎn)應(yīng)該是要可以抓到重大問題，比如說插電源能不能啟動(dòng)、按鍵功能是否都正常、屏幕有沒有正常顯示…等，要不然測(cè)試就沒有意義了，干脆全部裝成整機(jī)再測(cè)試就可以了。

另外，在開始測(cè)試以前還得先淮備一套功能都正常的電路板來當(dāng)作標(biāo)淮樣板(GOLDEN SAMPLE)，假設(shè)一套板子有A、B、C三塊板子，當(dāng)要測(cè)試A板子時(shí)，就把B、C標(biāo)淮樣板拿出來當(dāng)治具，只更換A板做測(cè)試，以此輪流完成三片板子的測(cè)試。

這種測(cè)試方法的最大問題是容易損壞標(biāo)淮樣板(GOLDEN SAMPLE)，因?yàn)橛行╇娐钒迮c電路板間的聯(lián)接器或是排線無(wú)法耐得住太多次的插拔，所以一般會(huì)使用延長(zhǎng)接線，好處是延長(zhǎng)接線可以方便組裝，不至于讓所有的板子統(tǒng)統(tǒng)擠在一起，另外延長(zhǎng)接線也比較便宜而且容易更換，用壞了就換一條，比用壞一片電路板來得劃算?？墒怯行┝憬M件的功能對(duì)訊號(hào)有特殊的需求，就無(wú)法使用延長(zhǎng)接線，如條碼掃描機(jī)(barcode)、觸控屏幕…等。

需要花很多時(shí)間(labor)也是這種測(cè)試方法的缺點(diǎn)，所以這種方法通常只使用在像 EVT(Engineer Verification Test)階段，生產(chǎn)數(shù)量較少或是電路板設(shè)計(jì)還未最后確定前的情況下。

 

針床功能測(cè)試機(jī)：

這個(gè)方法是利用電路板上預(yù)先留好(layout)的測(cè)試點(diǎn)(Test Point)，然后用探針(needle)把訊號(hào)引接出來做完整的功能測(cè)試。

測(cè)試的時(shí)候只要把板子放進(jìn)測(cè)試機(jī)臺(tái)，然后經(jīng)過機(jī)械動(dòng)作把探針頂出來接觸到待測(cè)板子的測(cè)點(diǎn)，這樣就可以把待測(cè)板模擬成連結(jié)整機(jī)的樣子，最后在機(jī)臺(tái)上操作測(cè)試所有的功能就可以了。

如果整機(jī)是有屏幕及按鍵的產(chǎn)品，就會(huì)把這些零組件的訊號(hào)都引出來，以方便對(duì)板子下指令與查看結(jié)果；如果產(chǎn)品沒有屏幕及按鍵，就要額外透過傳輸介面連接到電腦來操作并查看測(cè)試的結(jié)果。

制作這種功能測(cè)試機(jī)臺(tái)的時(shí)后，一般都需要有一臺(tái)已經(jīng)確定功能測(cè)試完整的整機(jī)，治具廠商會(huì)把產(chǎn)品的零件分拆安裝到測(cè)試治具之中，然后用一頭連接探針另一頭焊接排線的方式連接到各別的板子，探針基本上取代原本整機(jī)時(shí)連接各電路板之間的聯(lián)接器及排線，這樣才能達(dá)到快速上下(loading/unloading)待測(cè)板的目的，而且使用治具也較不易傷害到標(biāo)淮樣板，不用經(jīng)常更換標(biāo)淮樣板。

▼下面的照片是ICT測(cè)試機(jī)臺(tái)，基本上FCT/FVT與之類似，但會(huì)外接屏幕及按鍵，下面會(huì)有些FVT的照片。 

▼此圖是治具的局部放大圖，可以看到一些測(cè)試的探針，當(dāng)待測(cè)的板子放到治具的時(shí)候下壓就會(huì)讓探針透過小孔穿出來接觸到待測(cè)板的測(cè)試點(diǎn)。 

▼這是ICT治具內(nèi)部的排線布線的情形，可以看到密密麻麻的排線幾乎佔(zhàn)滿了正個(gè)治具的，通常有多少根探針，就會(huì)有多少條排線，一般只會(huì)多不會(huì)少，光要了解哪一條排線接到哪一條就夠傷腦筋了，所以基本上每一條排線都會(huì)有編號(hào)。 

▼這是傳統(tǒng)功能測(cè)試治具的外觀，從治具的上方可以看到有一些探針的上頭焊接了一些排線，通常還會(huì)把屏幕及按鍵接出來，以方便操作與查看測(cè)試結(jié)果。 

▼這是傳統(tǒng)功能測(cè)試治具內(nèi)部的排線，比ICT的排線要少很多，但排線總是麻煩，不但不易維護(hù)，散熱及訊號(hào)干擾都是問題。 

 

無(wú)線針床功能測(cè)試機(jī)：

這種功能測(cè)試機(jī)臺(tái)是改良原本的針床測(cè)試機(jī)，它把原本連接在測(cè)試探針后面的線材取消，轉(zhuǎn)而用一塊客制化的電路板來取代，也就是說原本探針只有一頭與待測(cè)試的板子接觸，現(xiàn)在變成探針的兩頭都與電路板接觸，只是一頭一樣接觸在待測(cè)板上，而另一頭則接觸在客制化的電路板上。這塊電路板可以依需要跑線路，然后連接至整機(jī)的其他電路，也可以把原本與其他電路板間的連接方式設(shè)計(jì)進(jìn)來，達(dá)到與產(chǎn)品完全結(jié)合的方式，有點(diǎn)類似 Big board，這有助解決一些對(duì)訊號(hào)干擾特別敏感零組件的操作問題，因?yàn)榫€路跑在電路板上，所以可以作一些大面積的接地層來隔絕線路間的干擾；另外維修起來也比較容易，因?yàn)闆]有太多複雜的排線，不需要一條條排線找下來，或擔(dān)心那條焊線斷了。

缺點(diǎn)是費(fèi)用偏高，因?yàn)樾枰谱骺椭苹陌遄?，所以一般這種無(wú)線功能測(cè)試治具的費(fèi)用會(huì)高出一般的針床功能測(cè)試治具約40%～70%左右，而且僅適合大量產(chǎn)穩(wěn)定的產(chǎn)品，因?yàn)橹灰娐钒逵腥魏蔚脑O(shè)計(jì)變更移動(dòng)到了測(cè)試點(diǎn)，就必須重新制做客制化的電路板。

▼這是改善傳統(tǒng)功能測(cè)試治具的無(wú)線功能測(cè)試機(jī)臺(tái)，治具的上方用客制化的電路板取代原本的排線，這臺(tái)治具還有一臺(tái)產(chǎn)品被整合的功能治具的上面。

(Wireless FVT)這是改善傳統(tǒng)功能測(cè)試治具的無(wú)線功能測(cè)試機(jī)臺(tái)，治具的上方用客制化的電路板取代原本的排線，這臺(tái)治具還有一臺(tái)產(chǎn)品被整合的功能治具的上面。 

▼這是無(wú)線功能測(cè)試治具要放待測(cè)電路板的地方，板子放上去之后把上方的蓋子合上，上下的探針就會(huì)被頂出來接觸待測(cè)板的測(cè)試點(diǎn)，達(dá)到連結(jié)成整機(jī)測(cè)試的目的。

(Wireless FVT)這是無(wú)線功能測(cè)試治具要放待測(cè)電路板的地方，板子放上去之后把上方的蓋子合上，上下的探針就會(huì)被頂出來接觸待測(cè)板的測(cè)試點(diǎn)，達(dá)到連結(jié)成整機(jī)測(cè)試的目的。 

▼這是無(wú)線功能測(cè)試治具的機(jī)臺(tái)內(nèi)部結(jié)構(gòu)，已經(jīng)看不到太多的排線在治具里面跑來跑去了，這些看得到的排線是治具對(duì)外連接溝通用的。

(Wireless FVT)這是無(wú)線功能測(cè)試治具的機(jī)臺(tái)內(nèi)部結(jié)構(gòu)，已經(jīng)看不到太多的排線在治具里面跑來跑去了，這些看得到的排線是治具對(duì)外連接溝通用的。